| Name |
Beschreibung |
Image |
P/N |
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| BR2-Si |
Beam’R2 System, 2,5 und 50 µm XY Schlitzpaare, 6 x 5 mm Silizium-Sensor (190 - 1050 nm). |
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| BR2-IGA |
Beam’R2 System, 5 und 50 µm Schlitzpaare, 4 x 5 mm InGaAs Sensor (675 - 1750 nm). |
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| BR2-DD |
Beam’R2 System mit Dualdetektoren bis 1750 nm, 2.5 und 50 µm XY Schlitzpaare, 4 mm Ø max. Scanweite. |
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| BR2-DD-2.0 |
Beam’R2 System mit Dualdetektoren bis 2000 nm, 2,5 und 50 µm XY Schlitzpaare, 2 mm Ø max. Scanweite. |
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| BR2-DD-2.4 |
Beam’R2 System mit Dualdetektoren bis 2400 nm, 2,5 und 50 µm XY Schlitzpaare, 2 mm Ø max. Scanweite. |
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| BMS2-4XY250-Si |
BeamMap2 System, 4 XY Ebenen, 250 µm Abstand, 2,5 µm Schlitzpaare, 6 x 5 mm Silizium-Sensor (190 - 1050 nm). |
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| BMS2-4XY250-IGA |
BeamMap2 System, 4 XY Ebenen, 250 µm Abstand, 5 µm Schlitzpaare, 4 x 5 mm InGaAs Sensor (675 - 1750 nm). |
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| BMS2-4XY250-DD |
BeamMap2 System mit Dualdetektor bis 1750 nm, 5 µm XY Doppelachsschlitze in 4 Ebenen, 4 mm Ø max. Scan. |
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| BMS2-4XY250-DD-2.0 |
BeamMap2 System mit Dualdetektor bis 2000 nm, 5 µm XY Doppelachsschlitze in 4 Ebenen, 2 mm Ø max. Scan. |
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| BMS2-4XY250-DD-2.4 |
BeamMap2 System mit Dualdetektor bis 2400 nm, 5 µm XY Doppelachsschlitze in 4 Ebenen, 2 mm Ø max. Scan. |
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