BA16K-500F-H9-D0

P/N 203793

ビームサンプラー、16 mm Ø、500 W。UP19K-110F-H9-D0を含む。

プロダクトファミリーの主な特長

レーザー出力の管理

CMOSセンサは、飽和レベルが低く、損傷閾値も同様に低くなっています。可能な限り最高の測定を行い、BEAMAGEカメラの損傷を防ぐためには、レーザー出力を制御することが非常に重要となります。

レーザービームの標本抽出

BAシリーズの光減衰器は、2つの直角ウェッジでフレネル反射を利用し、入射ビームのごく一部を分離します。入射ビームの偏光状態および放射照度は維持されます。

多用途

  • 出力およびビームプロファイルの同時モニタリング
  • 後方反射がなく偏光の影響を受けないビームスプリッタ
  • エネルギーまたは出力ディテクタと共に使用するための光ピックオフ
  • M6シリーズやPHシリーズなどの高感度ディテクタ用減衰器

互換性のあるスタンド

関連製品

含まれるもの

  • 光学面の保護カバー

  • Calibration certificate

  • 個別波長補正 (TM) 証明書

  • SM1チューブカプラ

測定性能

  • スペクトル領域

    200 - 2100 nm
  • 等価減衰

    1/1700
  • 内蔵出力ディテクタ

    UP19K-110F-H5-D0
  • 光学ウェッジ材質

    UV石英ガラス(コーティングなし)
  • 残留ビーム偏差

    5.6°
  • 偏光補正

    はい(直交くさび状一組)

損傷閾値

  • 最大平均出力密度

    10 MW/cm²
  • 最大エネルギー密度

    10 J/cm²
  • 最大出力

    500 W

物理的特徴

  • 冷却

    ファン
  • 開口直径

    16 mm
  • 寸法

    54H x 54H x 126D mm
  • 重量

    0.46 kg
  • 取付けスレッド

    SM1
  • アダプタ同梱

    SM1外部ねじ式チューブ

偏光保持

BAシリーズ光アッテネータは、2個のウェッジプリズムによるフレネル反射を利用し、入射光の一部を反射させます。ウェッジプリズムは直交しており、反射光が2番目のウェッジプリズムに達する際にS偏光とP偏光の偏光状態が入れ替わり、2つの偏光状態の反射率の差は相殺されます。このため、入射光の偏光状態や放射照度は維持されます。波面歪みはごくわずかで、レーザー出力の安定性にも影響はありません。

出力とプロファイルの同時モニタリング

BA16K/BA32Kモデルは、ビームダンプ機能を備えた校正済サーマルパワーディテクタを搭載しています。Gentec-EOパワーメーターに接続すれば、リアルタイムで出力を測定・表示できます。

出力の絶対値を測定する場合は、BA16K/BA32Kに適した補正係数を設定します。操作はいたって簡単です。この補正係数はレーザーの偏光に依存します。したがって、偏光が一定に保たれている場合のみ有効です。

PC-Beamageのソフトウェアにパワー測定機能が追加され、レーザーのパワー密度表示が可能になる予定です。

モジュラー設計

サンプル光ポートは、同梱のアダプターチューブでBeamageに接続できます。アダプターチューブは、当社のNDフィルターにも対応しており、より高い減衰効果を実現します(高出力で小径の照射に適しています)。Beamageカメラをご購入いただくと、ND4フィルターが標準品として付属しています。

BAシリーズ光アッテネータは、下記の要領で単独でご利用いただくことができます。

  • 当社のエネルギーディテクタ、パワーディテクタ使用時に減衰光を抽出
  • M6、PHなどの高感度ディテクタ用アッテネータとして
  • 後方反射のない非偏光ビームスプリッタ

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