よくある質問と回答

会社情報セクションでGentec-EOに関する詳細情報をご覧いただけます。

Gentec-EO製品、イベントに関する最新ニュースを受け取るには、当社の月刊ニュースレター購読をお申し込みください。LinkedIn、FacebookおよびTwitterからもご覧いただけます。

当社のブログでもレーザー関連のトピックに関する情報をお知らせしています。

米国またはカナダのお客様は当社のオンラインストアから直接ご購入いただくか、当社セールスチームにお問い合わせいただければ、お見積の発行、ご質問への回答、アドバイスの提供をさせていただきます。

米国およびカナダ以外の場合は、お近くの取扱業者にお問い合わせください。またセールス問い合わせフォームを使って、直接担当者にご要望をお送りいただくこともできます。

サポート& RMAリクエストフォームにご記入いただくと、当社アフターセールスチームのメンバーがサポートを提供します。お近くの取扱業者にお問い合わせいただくこともできます。

リソースセンターでも、カタログ製品に関する仕様シート、マニュアル、ビデオ、 技術情報などを取り揃えています。

はい、当社製品および資料に記載の製品について、すべてカスタマイズが可能です。ほとんどの製品ページにあるこの製品をカスタマイズボタンをクリックすると、対象製品のカスタマイズ詳細情報がご覧いただけます。製品ページに表示されないカスタマイズ可能要素を含む製品も一部ございます。詳細については当社まで直接お問い合わせください。

Gentec-EOのカスタマイズ詳細を見る

クレジットカード支払いオプション（Visa、Mastercard、American Express）がオンラインストア（米国とカナダのみ）でご利用いただけます。

販売代理店にて直接お取引される場合は、クレジットカードと電信送金をご利用いただけます。

お近くの販売業者とお取引される場合は、現地の支払条件に従ってください。

オンラインストア（米国とカナダのみ）でのご注文はすべてUPSが標準宅配業者となっています。

発送条件は、販売代理店、Gentec-EOまたはお近くの販売業者とのお取引の時点で決定されます。

いずれの場合も、代わりに納品用の発送アカウントをご利用いただけます。

セールスお問い合わせフォームで、Gentec-EO責任者またはお近くの販売業者にご要望の詳細をまとめてお送りください。 全製品ページに表示されているボタンをご使用いただくこともできます。

お見積の前に詳細情報をお問い合わせいただくこともできます。

お客様の連絡先およびご要望は、Gentec-EOが確認した上で、お近くの販売業者に転送されます。

製品ファインダーはお客様のレーザーに最適なGentec-EO製品を素早く検索できる最新のシステムです。お客様のレーザーのパラメータをご入力いただくと、スマート検索がニーズに合わせた3つのソリューションを提案します。

この製品がお客様のレーザーに対応しているかチェックすると記載されたボタンが各製品ページの仕様タブにあります。指示に従ってお客様のレーザーのパラメータをご入力いただくと、スマートチェックが作動し、選択された製品がお客様の用途に適しているかどうかをお知らせします。

提案された推奨についてご不安で、再検証、または詳細をご希望の場合は、お気軽に当社セールスチームにお問い合わせください。

全Gentec-EO製品はご購入時点から1年間の保証付きです。

保証は最高品質基準の製品を提供するためのGentec-EOの尽力を反映するものです。たとえば、Gentec-EO製品が正常に作動はするが、その仕様に応じて機能しないなどの場合、使用開始から1年以内であれば、当社のメイン工場に返送いただければ、評価をさせていただきます。保証条件により、該当する場合、次の対応が決定されます。

いいえ。スタンドは別途ご購入いただく必要があります。各製品ページのオーバービュータブに互換性のあるスタンドモデルが記載されています（該当する場合）。

選択された製品の吸収曲線は対象の製品ページに表示されています（該当する場合）。

ダウンロードセンターに当社のディテクタが採用する吸収材全種の吸収曲線が記載されています。

はい。

当社のソフトウェアは無料で使用許可は含まれていません。すでにお手元にあるGentec-EO製品に沿ったソフトウェアをお使いの場合、無料でチュートリアルとテクニカルサポートがご利用いただけます。

カスタマイズアプリケーションに対応させるための既存のソフトウェアへの修正は、経常外エンジニアリング（NRE）費用が発生する場合があります。

ダウンロードセンターに、Gentec-EO製品とお使いいただける各種ソフトウェア、ファームウェアおよびドライバが記載されています。

一部の機器は、ソフトウェアをインストールして操作する前に、ご利用のコンピュータにUSBドライバをインストールする必要があります。顕著な例はBEAMAGEシリーズのビームプロファイラーとINTEGRA（USB）インターフェースを搭載するディテクタです。

当社の月刊ニュースレターと、ブログのGentec-EOニュースセクションに、最新ソフトウェアリリースに関する情報を記載しています。

Gentec-EOソフトウェアはWindowsとのみ互換性があります。

シリアルポート通信は一部の製品においてLinuxで使用できます。具体的にはINTEGRA（USB）インターフェースを搭載するディテクタがあげられます。

Gentec-EOディテクタのほとんどはLabVIEWで使用できます。ドライバはダウンロードセンターで入手でき、ご利用の収集＆読み出し機器に応じて異なります。

Matlabもシリアルポート通信を使用してGentec-EOメータとのインターフェース接続が可能です。MathWorksではウェブサイトでこの方式に関する情報を提供しています。

測定の絶対精度はディテクタタイプおよび/またはモデルと、使用するレーザーパラメータに応じて異なります。サーマル出力ディテクタの場合、この値は通常1064 nmで±2.5%、また焦電エネルギーディテクタの場合、通常1064 nmで±3%となっています。

較正と精度は関心度が高いですが、複雑なテーマでもあります。お客様のケースに特化した値を知りたい場合や、お客様の用途におけるこれらのテーマについて検索されたい場合は当社のセールスチームにお問い合わせください。

ディテクタの較正スペクトル域とは、提供される較正データがNIST（米国標準技術局）追跡可能であることを意味します。

つまり、トレーサビリティは、そのディテクタが周知の参照値に対して較正された状態に関連する、測定機器の特性です。

基本的には機能します。

スペクトル吸収は、ディテクタが優れた精度で較正スペクトル域外でも使用できるかどうかを見極めるための、レーザービーム測定における重要な特性です。当社製品の多くは広帯域で、スペクトル的にフラットであるため、較正スペクトル域外でも高感度です。お客様の用途に関してこの点について詳しく知りたい場合は、当社のセールスチームにお問い合わせください。

年次ベースで行われる再較正は、ディテクタの感度（mV/WまたはmV/J）がまだ許容値内にあることを確認するために必要となります。

感度値は時間の経過をうけて推移（次第に変化）し、測定に付加的な系統的エラーを生じさせる場合があります。周知の制御参照（この場合はNIST）に対する機器の再較正により、Gentec-EOはお客様のディテクタの正常な感度値を再定義することができます。

業界標準は年に1回です。当社でもこれを推奨しています。

場合によっては、他の頻度で再較正を行うことが望ましいこともあります。たとえば特殊な例で、時間の経過に伴うディテクタの推移を監視し、較正感度が変わったことが示される場合、再較正は正常な値に復元するためにおこないます。またほかの例では、好条件のもとディテクタを軽度使用する場合、ユーザーは年次ベースで返送する必要がないこともあります。

変色/損傷の程度によります。ディテクタが現在の状態で再較正できない場合、Gentec-EOは吸収材/センサを交換し、後にディテクタを再較正できます。

RMAフォームで必要なデータをすべてまとめていただければ、修理が必要となる場合時価と作業範囲を添えてGentec-EOがお客様にお戻しします。

1. レーザー出力は、レーザーの暖機運転中は変化（変動）しがちなため、まずは使用および測定前にしばらく稼働させるようにしてください。
2. ビームサイズはディテクタ開口領域の40%～60%とします。
3. 正しいゼロ化プロセスはレーザーをオフにし、ディテクタが室温にある状態で行う必要があります。

出力ディテクタ、エネルギーディテクタのどちらも平均出力を返します。

出力ディテクタは、十分な速度（繰り返し率）がある場合にパルス状レーザーの平均出力（W）を返します。連続波（CW）レーザーであるかのようにレーザーを確認できるよう、ほとんどの出力ディテクタの最低繰り返し率は10 Hzとなっています。

エネルギーディテクタはパルス状レーザーのパルス単位のエネルギー（J）を読み取りますが、これによりその繰り返し率も検知します。Gentec-EOメータは定期的にデータバッファを点検し、パルス単位の平均エネルギーと繰り返し率にもとづいいた平均出力測定を返します。

ディテクタの測定可能な最低出力は、信号対ノイズ比率（SNR)に応じて読み取ることができます。SNRは測定可能な最低値を定義するために、ノイズ等価電力（NEP）を掛け合わせる値です。

Gentec-EOでは、機器のノイズ等価電力が実際の測定値と比べて十分に低くなるよう、SNR30を推奨しています。

たとえば、UP19K-15S-H5-D0のNEPは1 mWです。つまり、Gentec-EOガイドラインによる測定可能な最低出力は30 mWとなります。

光検出器からの出力信号は、レーザー出力を直線的に増加させながら、線形領域から漸近領域へと移行します。

光検出器の飽和レベルは、レーザー出力密度に関連し、必ずしも光検出器への損傷を示すものではありません。

これは望ましくはありませんが、二つのディテクタの不確実性によって生じる場合があります。生じた偏差がその不確実性よりも大きい場合、いくつかのポイントをチェックしてください。

1. 二つのディテクタがどちらも仕様範囲内で仕様されていることを確認してください。たとえば、ディテクタはその仕様制限に極めて近い範囲で使用するべきではありません（測定可能な最大出力の50%までなど）。
2. レーザーはディテクタの吸収表面の中心に配置され、開口部内に完全に収まっている必要があります。また、最適な結果を得るため、ビーム領域は有効な開口領域の80%未満、あるいは10%以上であるものとします。
3. 機器の使用履歴も大いに関連します。損傷を受けたディテクタは、その損傷が目視できるものではなくても、その損傷によって較正データの有効性が失われているため、期待されるものとは異なる測定値を返す場合があります。また、再較正の必要があるディテクタも、特に延長使用後は、異なる測定値を返す場合があります。

これが異なる測定値の理由ではない場合は、次の情報を添えて当社まで状況をお知らせください。

• 各ディテクタのシリアルナンバー
• 周囲環境条件
• レーザー仕様（タイプ、出力、ビームサイズなど）
• 吸収材への明白な損傷

すべての水要件は選択されたディテクタのマニュアルに詳細に記述されています。水要件は採用技術およびディテクタサイズによって異なる場合がありますのでご注意ください。

たとえば、UPシリーズのディテクタ要件は通常最低冷却流率が3 LPM、最高水温が22 °Cとなっています。一方、HPシリーズのディテクタは、通常4～6 LPM、水温は15～25 °Cで、±1 LPM/分未満の流率が求められます。

ユーザーマニュアルにも水質および使用不可の添加物に関する情報が記載されています。

パルス状または変調レーザーの平均出力は、一連のデータ点の平均パルスエネルギーにレーザーの繰り返し率を掛け合わせることで定義できます。

たとえば、1 mJのパルスを一定期間に渡って送信する100-Hzレーザーの同期間の平均出力は100 mWです。

ディテクタが読み取れる測定可能な最低エネルギーは、信号対ノイズ比率（SNR)に応じて異なります。SNRは測定可能な最低値を定義するために、ノイズ等価エネルギー（NEP）を掛け合わせる値です。

Gentec-EOでは、機器のノイズ等価電力が実際の測定値と比べて十分に低くなるよう、SNR30を推奨しています。

たとえば、QE25LP-S-MB-D0ではNEEは4 μJとなります。つまり、Gentec-EOガイドラインによる測定可能な最低エネルギーは120 μJとなります。

標準DB-15コネクタのエネルギーディテクタに延長ケーブルを使用することは、電気的に検討して認められません。

ただし基本ケーブルをカスタマイズ製品と同じ長さにすることは可能です。これらのディテクタに関する情報および/またはお見積については当社までお問い合わせください。

ディテクタの最大パルス幅はその上昇時間に応じて異なり、これは焦電結晶サイズ、厚さなど、同様に異なるパラメータの要因となります。すべてのエネルギーディテクタにはその仕様値を記載した資料が付属しています。

エネルギーディテクタには最小パルス幅はありません。

MBとMTは、当社のQEシリーズのエネルギーディテクタに搭載される吸収材の主要二種に関するコードネームです。

MBは二つのうち最も弾性のある広帯域吸収材ですが、厚さがあるため上昇時間は遅くなります。そのため、高速レーザー（一般に1 kHz以上）の測定はできません。

MTは二つのうち最も弾性のない金属吸収材ですが、薄いため、金属層により上昇時間が速くなります。そのため、高速レーザー（一般に1 kHz～6 kHzまで）の測定が可能です。

QED拡散減衰器は、高エネルギー密度レーザー（フルエンスとも呼ばれる）、および/または高平均出力レーザーと使用するものです。たとえば、フルエンス値が0.5 J/cm2以上の場合、ユーザーはQED減衰器の使用を強く検討することが求められます。

この減衰器は高い反射性を持ち、組み合わされるエネルギーディテクタの等価感度を変更します。このことから、エネルギーディテクタの融通性を高めるために、QED較正オプションの一つを検討することが求められる場合があります。ユーザー較正もよくある検討事項の一つです。

ソフトウェア、ファームウェア、BEAMAGEシリーズの付属資料が入ったUSBスティックが、すべてのビームプロファイラーに同梱されています。

PC-BEAMAGEはダウンロードセンターからも無料でダウンロードできます。これにはライセンス、ログイン情報、購入証明などは不要ですので、いつでもソフトウェアをダウンロードして実際に機能を確かめることができます。お試し使用ができるシミュレーションしたビームもあります。

次のビーム直径定義がPC-BEAMAGEで選択できます：

• 4シグマ（ISO推奨および使用）
• 半値全幅（FWHM）
• e2乗分の1（1/e²）
• 有効径の86%（D86）

ソフトウェアでカスタマイズビーム直径定義も設定することができます。

はい。

絶対および/または相対ビーム位置/変位はPC-BEAMAGEの特徴です。パネル一式がこれらの機能を担います。

ビームプロファイラーは度量衡学的な意味において較正できません。これは直径測定の比較に使用できる追跡可能な基準がないためです。たとえば、当社の出力ディテクタはNIST追跡可能ですが、レーザービームプロファイリングドメインではこの種の参照値はありません。

Gentec-EOはそれでもピクセル応答の均一性を最適化し、各カメラのノイズレベルを、そのセンサータイプに関わらず、最適な性能に整えます。

ビームプロファイラーは較正できないため、これに関する測定不確実性値を算出することができます。たとえば、当社の出力ディテクタはNIST追跡可能ですが、レーザービームプロファイリングドメインではこの種の参照値はありません。

ピクセルサイズは当社が提供するすべてのカメラモデルで非常に小さいため、ビーム直径測定はあらゆる実用目的において正確であるとみなすことができます。ただし、ISOでは、測定ビームを10ピクセル直径幅未満に抑制しているため、この点に関しての制限はより低くなります。

複数のオプションがご利用いただけます。

• BEAMAGE独自のバージョンをまだご覧になっていない場合、大型のBEAMAGE-4M-FOCUSの使用をご検討ください。
• カメラレンズの使用により、表面に拡散（反射）される、または表面を通過（透過）するビームプロフィルの画像をカメラが感知できます。このオプションでは、ユーザーがレーザーを測定できる上、少し離れてそのビームプロフィルを確認することができます。
• ビームサイズを縮小（ビームレジューサなどを利用）し、追加の減衰を使用して、増加したビーム出力/エネルギー密度を補正することをご検討ください。

NDフィルタ搭載Gentec-EOビームプロファイラーは、最大平均出力1 Wへの耐性があります。これ以上の出力については、カメラ開口部の損傷を防止するため、 ビーム減衰器を使用する必要があります。

カメラレンズの使用により、表面に拡散（反射）される、または表面を通過（透過）するビームプロフィルの画像をカメラに感知させるようにすることも可能です。Gentec-EOディテクタを拡散面として使用する場合、レーザー測定と同時にそのビームプロフィルを確認することができます。

テラヘルツ出力ディテクタの較正は複雑で、当社が提供するより標準的な通常製品の一部（サーマル出力ディテクタや焦電エネルギーディテクタなど）に似ていますが、使用する較正参照値のため生じる結果が異なります。これらの結果についての詳細は当社まで直接お問い合わせください。

較正スペクトル域外で、テラヘルツ出力ディテクタは10.6 µm～440 µmと定義されており、絶対測定を取得することはできません。言い換えれば、同じディテクタによる他の以前の測定値と比較しない限り、この未較正スペクトル域で取得された測定値からは何も導き出せないことになります。以下のような簡潔な結論のみが得られます。「測定されたこの平均出力値は以前得たもう一つの値の二倍である」。

それでも、テラヘルツ出力またはエネルギーの相対測定は、光学装置の調整、一定期間にわたる相対出力変動のモニタリング、相対最大平均出力の算出など、多くのタスクに有益です。

アナログ出力を搭載するテラヘルツ出力ディテクタは、THZ-I-BNCシリーズや QS-THZシリーズの場合と同様に、平均出力に代えてパルスエネルギーを測定するように設定できます。

THZ5I-BL-BNCはオシロスコープと一緒に使用して、10 Hzまでの相対測定を実施できます。この値のほか、THZ5I-BL-BNCなどのディテクタの電圧出力は、繰り返し率が上昇すると減少します。

QS5-THZなどのディテクタは、QS-I-TEST評価テストボックスに挿入し、10 Hzテラヘルツレーザー源も同様に読み取ることができます。

THZ12D-3S-VP-D0とそのバリエーションを除き、Gentec-EOのすべてのテラヘルツ出力ディテクタは、テラヘルツレーザー源が連続波（CW）である場合は光学チョッパーを使用する必要があります。

使用するチョッピング周波数はテラヘルツディテクタモデルによって異なるため、技術仕様を参照してください。

できます。実際に、ご利用の光学装置にチョッパーが搭載されている場合、適切に電圧出力を測定するには、これを使用するのが最適な方法です。

QUADシリーズは焦電センサーを搭載するディテクタで、テラヘルツ源および赤外領域へのUVの波長を伴うレーザーの両方に使用できます。

これらのプローブを使用するためにまず検討すべきことがいくつかあります。たとえば、ビームは時間が経過しても空間的強度が安定した均一ビームに焦点を絞る必要があります。お客様のニーズにこの製品が適しているかどうかを保証するため、直接当社にお問い合わせください。

テラヘルツパルス状レーザーのパルス幅、またはそれに関する赤外領域へのUVの標準的なレーザーのパルス幅を測定することが可能です。

これにはQS-I-TEST評価テストボックスを搭載するQSシリーズ焦電ディテクタの使用も含まれ、QSディテクタの立ち上がり時間がレーザーよりもはるかに速くなるよう設定されます。この場合QS-I-TESTにより生じるアナログ電圧出力は、レーザーパルス形状同様に解釈することができます。

この方式が正常に機能しても、これは当社製品の一般的な使用方法ではありません。当社ではこういったプロジェクトの開始前に当社にご相談いただくよう推奨しています。

当社では光学レンズは取り扱っていませんが、赤外線およびスペクトルのテラヘルツ部分のための各種バンドパスウィンドウを多数取り揃えています。テラヘルツ用途の標準的なオプションとして、PEW（高密度ポリエチレン）、SCQW（石英単結晶）およびSiW（シリコン）があります。

これらは当社の現行のテラヘルツディテクタおよびQS焦電ディテクタにも簡単に搭載できます。